- Рубрики
- Філософія, психологія, педагогіка
- Історія
- Політика, право
- Економіка
- Математика
- Фізика
- Хімія, хімічна технологія
- Біологія, валеологія
- Геодезія, картографія
- Загальнотехнічні науки
- ІТ, комп'ютери
- Автоматика, радіоелектроніка, телекомунікації
- Електроенергетика, електромеханіка
- Приладо-, машинобудування, транспорт
- Будівництво
- Архітектура, містобудування
- Мовознавство
- Художня література
- Мистецтвознавство
- Словники, енциклопедії, довідники
- Журнал "Львівська політехніка"
- Збірники тестових завдань
- Книжкові видання
- Наукова періодика
- Фірмова продукція
Sergei Borovikov, Evgeni Schneiderov, Irina Burak Models Describing the Degradation of Functional Parameters of Electronic Devices Based on the Weibull–Gnedenko Distribution
MODELS DESCRIBING THE DEGRADATION
OF FUNCTIONAL PARAMETERS OF ELECTRONIC DEVICES BASED ON THE WEIBULL–GNEDENKO DISTRIBUTION
Sergei Borovikov, Evgeni Shneiderov, Irina Burak
Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics, Belarus
bsm@bsuir.by, shneiderovevgeni@gmail.com
© Borovikov S., Shneiderov E., Burak I., 2016
Кількість посилань 10